關於南宫NG·28
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常規靜態參數測試
設備名稱 |
設備圖 |
可承擔試驗項目 |
依據標準 |
JUNO測試系統 |
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半導體器件常規靜態參數參數 |
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DBC-091晶閘管關斷時間測試儀 |
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單、雙向可控矽的關斷時間tq測試 |
GB/T 15291-2015 9.1.10 |
DBC-105浪涌及峰值電壓測試台 |
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單、雙向可控矽的浪涌ITSM測試 |
GB/T 15291-2015 9.3.3 |
DBC-082通態電流臨界上升率試驗台 |
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單、雙向可控矽的dI/dt測試 |
GB/T 15291-2015 9.3.5 |
DATA-206型晶閘管dv/dt測試儀 |
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單、雙向可控矽的dV/dt測試 |
GB/T 15291-2015 9.1.11 |
可控矽門極觸發特性測試儀 |
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單、雙向可控矽的IGT、VGT測試 |
GB/T 15291-2015 9.1.7 |
QT2電晶體半導體管特性圖示儀 |
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靜態電參數 |
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EFT電快速脈衝群測試 |
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EFT電快速脈衝群測試 |
JESD51-3，JESD51-4 |
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