南宫NG·28(中国区)官方网站

關於南宫NG·28

具有成熟的核心團隊,並具備完善的技術創新能力、良好的市場源

可靠性試驗


設備名稱
設備圖
可承擔試驗項目
依據標準
超聲波掃描顯微鏡
南宫NG·28半導體
超聲分層掃描 SAT
/
電熱鼓風乾燥箱
南宫NG·28半導體
HTST
GB/T 2423.2
JESD22-A103
高低溫環境試驗箱
南宫NG·28半導體
HTST、 LTSL
JESD22-A103E JESD22-A119A
THT穩態濕熱試驗箱
南宫NG·28半導體
THT
GB/T2423.3-2006,
JESD22-A101D
PCT高壓蒸煮實驗箱
南宫NG·28半導體
PCT
JESD22-A102
uHAST不加偏壓高加速老化試驗實驗箱
南宫NG·28半導體
THT、uHAST
JESD22-A110
JESD22-A118 GB/T2423.3
JESD22-A101
TC高低溫衝擊試驗箱
南宫NG·28半導體
TC、HTST、 LTSL
JESD22-A104
GB/T 2423.22
HTRB高溫反偏試驗箱
南宫NG·28半導體
BURN-IN、HTRB、HTST、HTGB
GB/T 4587
JESD22-A108
H3TRB高溫高濕反偏試驗箱
南宫NG·28半導體
BURN-IN、HTRB、H3TRB、THT 、HTST、HTGB
GB/T2423.3-2006
JESD22-A101D
回流焊 Reflow
南宫NG·28半導體
Reflow
/
鹽霧試驗系統
南宫NG·28半導體
鹽霧試驗系統
GB/T 2423.17